[大理石平臺]大理石平臺的平整度誤差測量常用方法！

我們考慮過驗證大理石平臺:的特性（平整度）和平滑度（即平整度）。大理石平臺的平面度誤差是指理想平面因測實際表面而產(chǎn)生的變化量。

 

通過測實際表面將大理石平臺的平面度誤差與理想平面進行比較，兩者之間的線值距離為平面度誤差值；或通過測量實際表面上幾個點的相對高度差，然后轉(zhuǎn)換為直線，用該值表示平整度誤差值。

 

大理石平臺校準

 

大理石平臺的平整度誤差測量常用方法如下：

 

1、 平晶干涉法：理想平面由光學器件平晶的工作表面表示，被測表面的平整度誤差值直接由干涉條紋的彎曲程度確定。它主要用于測量刻面的平面度，例如量規(guī)的工作表面和測微頭的測量表面。

 

2、工作臺尺寸法：工作臺尺寸法是將要測試的零件和千分尺放置在標準板上，使用標準板作為測量參考表面，使用千分尺沿著實際表面逐點或垂直移動。沿數(shù)個線的方向進行測量。根據(jù)評估基準，表測量法分為三個點法和角線 法：三個點法是由距測實際表面最遠的三個點確定的理想平面。作為評估基準，實際測量將首先將距離測實際表面最遠的三個點調(diào)整為與標準板相同的高度；對于角線 法，將首先單擊實際表面上的四個角。 角線調(diào)整為兩個或兩個輪廓。然后用千分尺進行測量，并且由千分尺在整個實際表面上測得的最大變化是實際表面的平整度誤差。

 

3、液位法：液位法是用作測量參考面的液位。液位由“連接罐”中的液位組成，然后由傳感器測量。 法主要用于測量大平面的平面度誤差。

4、光束平面法：光束平面法是使用準值望遠鏡和瞄準目標的測量。選擇由在實際表面上彼此最遠的三個點形成的光束平面作為平坦度誤差的測量參考平面。

 

除了上述法可測量的平面度誤差外，還有一個平面干涉儀、電平、自準直儀，用于測量大型大理石平臺平面的平面度誤差。

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