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[大理石平板檢測(cè)]如何使用角差法檢定大理石平板的平面度?

時(shí)間: 來源: 未知

大理石平板是用天然優(yōu)質(zhì)大理石福建料制成的精密基準(zhǔn)測(cè)量工具,對(duì)儀器儀表、精密工具、機(jī)械制件的檢驗(yàn),都是理想的基準(zhǔn)面,大理石平板特別是用于高精度的測(cè)量方面。大理石平板...

文章標(biāo)簽:大理石檢測(cè)平板  大理石平板檢測(cè)  

大理石平板是用天然優(yōu)質(zhì)大理石“福建料”制成的精密基準(zhǔn)測(cè)量工具,對(duì)儀器儀表、精密工具、機(jī)械制件的檢驗(yàn),都是理想的基準(zhǔn)面,大理石平板特別是用于高精度的測(cè)量方面。大理石平板經(jīng)嚴(yán)格物理試驗(yàn),結(jié)晶細(xì)密,質(zhì)地堅(jiān)硬。由于大理石系非金屬材料,絕無磁性反應(yīng),亦無塑性變形。大理石平板其硬度高,因此精度保持性好。
 
   水平儀法是將固有水平儀的橋板置于被測(cè)大理石平板上,按一定的布點(diǎn)形式首尾銜接的移動(dòng)橋板,逐個(gè)節(jié)距測(cè)出被測(cè)面上相鄰兩點(diǎn)連線相對(duì)測(cè)量基面即自然水平面的傾斜角,通過數(shù)據(jù)處理求出平面度誤差值。水平儀的布點(diǎn)形式可以采用米字型,也可以采用網(wǎng)格型。此方法適用于大中型大理石平板平面度檢定。
大理石平板檢測(cè)
大理石平板  
  常用的大理石平板平面度檢定方法有兩大類:間接測(cè)量法和直接測(cè)量法。
 
  一、自準(zhǔn)直儀法是將固有的反射鏡的橋板置于被測(cè)平板上,按對(duì)角線布點(diǎn)形式移動(dòng)橋板,逐個(gè)節(jié)距測(cè)出被測(cè)面上相鄰兩點(diǎn)連線相對(duì)測(cè)量基線(面 )的傾斜角,通過數(shù)據(jù)處理求出平面度誤差值。自準(zhǔn)直儀法常用米字型布點(diǎn),若用網(wǎng)格型布點(diǎn),則需要更多的反射鏡,調(diào)整比較麻煩。測(cè)量時(shí)將自準(zhǔn)直儀放在大理石平板外牢固的支座上,固有反射鏡的橋板按規(guī)定截面逐個(gè)節(jié)距進(jìn)行移動(dòng)如圖37所示,測(cè)完一個(gè)界面在調(diào)整儀器測(cè)量第二個(gè)截面,直到測(cè)完規(guī)定截面為止。
 
  當(dāng)被測(cè)大理石平板較大時(shí), 可以將自準(zhǔn)直儀放在平板上進(jìn)行檢定,為了減少自準(zhǔn)直儀移動(dòng)次數(shù),可以增加一個(gè)反射鏡,以改變瞄準(zhǔn)方向如圖38所示。將自準(zhǔn)直儀放在位置1,就可測(cè)有標(biāo)記1的三條截面,將自準(zhǔn)直儀移至位置2、3、4,就可以測(cè)出標(biāo)記2、3、4的各個(gè)截面,如果儀器帶有兩個(gè)反射鏡,可以按下圖方式測(cè)量,可以減少儀器裝調(diào)次數(shù),提高測(cè)量效率。此方法適用于大中型大理石平板平面度檢定
 
     二、大理石平板直接測(cè)量法是直接獲得平面各點(diǎn)偏差值或直接評(píng)定平面度誤差值。這種測(cè)量方法可直接得到線值結(jié)果,因此也叫線差法。屬于這類測(cè)量方法的有刀口直尺或平尺的墊塞法,標(biāo)準(zhǔn)平板的打表法,激光準(zhǔn)直儀測(cè)量法。
 
  大理石平板間接測(cè)量法是利用水平儀或自準(zhǔn)直儀在被測(cè)平面若干個(gè)測(cè)量截面上,以節(jié)距法進(jìn)行測(cè)量,得到各被測(cè)點(diǎn)相對(duì)于測(cè)量基準(zhǔn)(水平面或光軸直線)的傾斜角度,在取得最后結(jié)果時(shí),將角值表示的量值換算為以線值表示的量值。這種方法從儀器器中讀得的數(shù)值是角度值,因此也叫角差法。屬于這類方法的有水平儀法和自準(zhǔn)直儀法。

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