文章標(biāo)簽：大理石平臺(tái)精度
大理石平臺(tái)的材質(zhì)介紹
大理石平臺(tái)是用天然優(yōu)質(zhì)的花崗石材料制成的精密基準(zhǔn)測(cè)量工具，對(duì)儀器儀表、精密工具、機(jī)械制件的檢驗(yàn)，都是理想的基準(zhǔn)面，大理石平臺(tái)特別是用于高精度的測(cè)量方面。大理石平臺(tái)取材于地下優(yōu)質(zhì)的巖石層，經(jīng)過(guò)億萬(wàn)年自然時(shí)效，形態(tài)極為穩(wěn)定,不用擔(dān)心因常規(guī)的溫差而發(fā)生變形。
大理石平板平面度誤差怎么檢測(cè)？
大理石平板平面度的檢測(cè)誤差的方法有四種：三點(diǎn)法、對(duì)角線法、最小乘二法以及最小區(qū)域法這四種。
三點(diǎn)法是用實(shí)際被測(cè)大理石平板表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)所組成的平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，用來(lái)平行這個(gè)基準(zhǔn)面，并具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。
對(duì)角線檢測(cè)法是以通過(guò)實(shí)際被大理石平板測(cè)表面上的一條對(duì)角線，用來(lái)平行另一條對(duì)角線所作的評(píng)定基準(zhǔn)面，用來(lái)平行于這個(gè)基準(zhǔn)面且具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。
最小乘二檢測(cè)法是以實(shí)際被測(cè)大理石平板表面的最小二乘平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，用來(lái)平行于最小二乘平面，并具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。最小乘二平面是使實(shí)際被測(cè)大理石平板表面上各點(diǎn)與該平面的距離的平方和為最小的平面。此方法計(jì)算較為復(fù)雜，一般需要計(jì)算機(jī)處理。
最小區(qū)域檢測(cè)法是以包含實(shí)際被測(cè)表面的最小包含區(qū)域的寬度作為平面度誤差值，是符合平面度誤差定義的評(píng)定方法。
大理石平臺(tái)技術(shù)要求：
1、大理石平臺(tái)工作面上不得有嚴(yán)重影響外觀和使用性能的砂孔、氣孔、裂紋、夾渣、縮松、劃痕、碰傷、銹跡等缺陷。
2、大理石平臺(tái)非工作面上的凹陷或掉角允許修補(bǔ)。
3、大理石平臺(tái)采用細(xì)晶粒、結(jié)構(gòu)縝密的輝長(zhǎng)巖、輝綠巖、花崗巖(黑云母應(yīng)小于5%、彈性模量應(yīng)大于0.6x10-4kg/平方厘米、吸水率應(yīng)小于0.25%)等材料制造，其工作面硬度應(yīng)大于70hs。
4、大理石平臺(tái)工作面的表面粗糙度R的最大允許值為0.32—0.63μm，側(cè)面為10μm。
5、大理石平臺(tái)工作面的平面度公差在溫度20℃下給定：
000級(jí)=1×(1+d/1000)um、
00級(jí)=2×(1+d/1000)um、
0級(jí)=4×(1+d/1000)um、
1級(jí)=8×(1+d/1000)um、
(d為對(duì)角線長(zhǎng)度，mm)，距工作面邊緣最大30mm內(nèi)平面度公差不計(jì)，且任意一點(diǎn)不得高于工作面。
大理石平板安裝使用的注意事項(xiàng)
大理石平板的安裝和調(diào)試是一項(xiàng)精細(xì)的工作，安裝過(guò)程要細(xì)致，否則可能因安裝過(guò)程導(dǎo)致其使用效率。
1、將大理石平板支架上的三個(gè)主支點(diǎn)調(diào)平以后，用其余兩個(gè)輔助支點(diǎn)進(jìn)行微調(diào)，使平板處于相對(duì)水平狀態(tài)，并且要把大理石平板的工作面擦拭干凈，在確認(rèn)沒(méi)有任何問(wèn)題的情況下使用。
2、要盡量避免工件和平板的工作面有過(guò)力的碰撞，防止平板工作面的損壞，影響工作面精度；工件的重量不能超過(guò)大理石平板的荷載量，否則會(huì)導(dǎo)致降低工作質(zhì)量，使大理石平板變形，降低大理石平板的使用壽命。
3、在清洗大理石平板表面的污漬時(shí)，要記住使用中性清潔劑，不能使用含有漂白性能的清潔劑；也不要使用硬刷子和研磨性清潔劑。清洗不如預(yù)防，預(yù)防大理石平板污漬最好的辦法是及時(shí)清理潑灑液體。一些使用者會(huì)用各種不同的密封劑來(lái)保護(hù)大理石表面，但不管怎么樣，都要定期重新密封。
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